以下是我司的技术人员为大家所做的报告，详情如下：
物位测量通常指对工业生产过程中封闭式或敞开容器中物料（固体或液位）的高度进行检测，如果是对物料高度进行连续的检测，称为连续测量。如果只对物料高度是否到达某一位置进行检测称为限位测量。完成这种测量任务的仪表叫做E+H恩德斯豪斯物位计。

E+H恩德斯豪斯物位计参数：
适合所有行业液体介质的一体化音叉限位检测开关
可用于爆炸危险区域，取得各类认证，适合所有行业。FTL50的功能安全等级达到 SIL2/SIL3级，第二道防护确保设备具有程度的安全性和可用性。测量值稳定，不受流动、 扰动、气泡、泡沫、振动、固体含量或粘附的影响。
E+H恩德斯豪斯物位计的优势：
可用于功能安全等级要求SIL2/SIL3的安全系统中，符合 IEC 61508/IEC 61511-1标准
多种过程连接可供选择
配备多种电子插件类型，如NAMUR, 继电器、半导体晶闸管、PFM信号输出，实现与各个过程控制系统的连接
还可选用PROFIBUS PA通讯协议
无需校准：快捷、经济的设备开启模式
无机械活动件、无需维护，无磨损，使用寿命长。可监测叉体破损，保证功能正常
FDA 认证材料(PFA Edlon)
E+H恩德斯豪斯物位计的应用领域
适用于所有液体的限位检测开关
过程连接：螺纹、法兰和卫生型过程连接（卡箍）
温度： -50 ~ +150°C (-58~ +302°F)
压力： -1~ +64bar (-14.5~ +928psi)
传感器材质：316L, Alloy
防爆认证，溢出保护 WHG， SIL，船级认证
后，我再为大家介绍一下E+H恩德斯豪斯物位计的实用：
目前E+H恩德斯豪斯物位计使用的微波频率有三个频段：C波段(5.8～6.3GHz)、X波段(9～10.5GHz)、K波段(24～26GHz)。物位测量中的微波一般是定向发射的，通常用波束角来定量表示微波发射和接收的方向性。波束角和天线类型有关，也和使用的微波频率(波长)有关。
E+H恩德斯豪斯物位计对于常用的圆锥形喇叭天线来说，微波的频率越高，波束的聚焦性能越好，即波束角小，在实际使用中这是十分重要的，低频微波物位计有较宽的波束，如果安装不得当，将会收到内部结构产生的较多的虚假回波，例如：采用4”喇叭天线的26GHz雷达的典型波束角为8°，而5.8GHz 的典型波束角为17°。并且，微波的频率越高，其喇叭尺寸也可以做的越小，更易于开孔安装。目前还没有频率高于K波段(24—26GHz)的微波(雷达)物位计。
而X波段雷达由于没有明显的应用特点，而在各大物位厂商的雷大物位技术发展中趋于被淘汰。现今物位测量领域困扰用户的是一些大型固体料仓的物位测量，特别是用于50/100米以内的充满粉尘和扰动的加料状态下的料仓。相关技术的仪表例如电容或导波雷达TDR在放料时物位下降时会受到很强的张力负载，可能会损坏仪表或把仓顶拉塌掉。重锤经常有埋锤的问题，需要经常维修，大多数其他机械式仪表也是这样。而高粉尘工况又可能会超出非接触式超声波物位测量系统的能力。 高频的调频雷达技术尤其适合这种大型固体料仓的物位测量!
希望以上的E+H恩德斯豪斯物位计资料可以帮助到大家，如有不同意见，请电联我们。