德国E+H雷达物位计采用微波脉冲的测量方法，可安装于各种金属、非金属容器或管道内，对液体、浆料及颗粒料的物位进行非接触式连续测量。德国E+H雷达物位计适用于粉尘、温度、压力变化大，有惰性气体及蒸汽存在的场合。E+H雷达物位计对人体及环境均无伤害，还具有不受介质比重的影响，不受介电常数变化的影响，不需要现场校调等优点，不论是对工业需要，还是对顾客经济实惠的考虑，都是不错的选择。
已成为物位测量仪表市场上的主流产品，主要分为雷达物位计和导波雷达物位计。
E+H导波雷达物位计：导波物位计工作方式类似雷达:向被测目标发射微波，由目标反射的回波返回发射器被接收，与发射波进行比较，确定目标存在并计算出发射器到目标的距离。
E+H雷达物位计按工作方式可以分为非接触式和接触式两种
1，E+H非接触式微波物位计常用喇叭或杆式天线来发射与接收微波，仪表安装在料仓顶部，不与被测介质接触，微波在料仓上部空间传播与返回。安装简单、维护量少，并且不受料仓内气体成分、粉尘、温度变化等的影响，深受用户欢迎，可替代劳动强度大的人工投尺或带重锤的卷尺、维修率高的接触式仪表、电容等。因此，E+H非接触式微波物位计是近年来发展zui快的物位测量仪表。
2，E+H接触式微波物位计一般采用金属波导体(杆或钢缆)来传导微波，仪表从仓顶安装，导波杆直达仓底，发射的微波沿波导体外部向下传播，在到达物料面时被反射，沿波导体返回发射器被接收。
的测量条件：测量范围从波束触及罐低的那一点开始计算，但在特殊情况下，若罐低为凹型或锥形，当物位低于此点时无法进行测量。若介质为低介电常数当其处于低液位时，罐低可见，此时为保证测量精度，建议将零点定在低高度为C的位置。理论上测量达到天线*的位置是可能的，但是考虑到腐蚀及粘附的影响，测量范围的终值应距离天线的*至少100mm。对于过溢保护，可定义一段安全距离附加在盲区上。zui小测量范围与天线有关。随浓度不同，泡沫既可以吸收微波，又可以将其反射，但在一定的条件下是可以进行测量的。
我司常备E+H雷达物位计现货型号：
E+H超声波物位计
E+H超声波物位计FDU 91...96
E+H超声波物位计FMU 230/231
E+H超声波物位计FMU 40/41/42/43
E+H超声波物位计FMU 90
E+H超声波物位计FTU 230/231
E+H导波雷达物位计
E+H导波雷达物位计FMP 40
E+H导波雷达物位计FMP 41C
E+H导波雷达物位计FMP 45
E+H雷达物位计FMR 130
E+H雷达物位计FMR 131
E+H雷达物位计FMR 230
E+H雷达物位计FMR 231
E+H雷达物位计FMR 240
E+H雷达物位计FMR 244
E+H雷达物位计FMR 245
E+H雷达物位计FMR 250
E+H雷达物位计FMR 530
E+H雷达物位计FMR 531
E+H雷达物位计FMR 532
E+H雷达物位计FMR 533
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